MS-101D抗干扰介质损耗测试仪

 时间:2024-10-24 23:49:59

1、测量中压互感器tgδ的方法如图11所示,用反接线方式测量,将C2末端δ与C1首端相连,接鞭徇跋尜仪器HV口(用高压电缆)XT悬空,中压互感器二次线圈短路接地。由于C1+C2远大于CB,所以此菱诎逭幂方法测得的tgδ≈tgδB。如果现场CB值较小,现场干扰又较大,反接线所测得的数据误差可能较大,这时可选择正接线方式测量。首先把CVT二次引线全部断开,并将二次线圈短路,然后接仪器的CX测量线。XT悬空。接线方式见图12所示:

MS-101D抗干扰介质损耗测试仪
MS-101D抗干扰介质损耗测试仪

2、电容C1和tgδ1,C2和tgδ2的测量:测量主电容tgδ1和C1的接线如图13所示。由中间变压器励磁加压,XT盼内溲铫点接地,主电容C1高压端用CX线接仪器的CX端,分压电容C2的δ端用另一条CX线悬空接仪器的HV高压端。由于“δ”端绝缘水平所限,试验电压不超过3kV。接线完毕,把测量方式选择到CVT上,测试电压不要超过3.0kV。仪器自动测试,测试完毕会自动或手动打印C1,C2的电容和介损。按“增大”、“减小”建翻页显示C1,C2的电容和介损。

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